1.芯片型号:J52.天工开物开发包OpenExplorer版本:J5_OE_1.1.29等3.问题定位:模型增强4.问题具体描述:我使用的是bev ipm算法,想做bev平面增强以及摄像头外参rpy扰动,请问这两种扰动都需要同时改变标签值吗?
你好,bev平面增强后,需要您这边改变分割和检测bbox的label,而增加摄像头外参rpy扰动后,需要根据新的外参计算模型的ego2img矩阵。另外,我们的bev参考算法中也已经提供了一些数据增强的方法("BevImgResize","BevImgCrop","BevImgPad","BevImgRotate","BevImgFlip","BevImgTransformWrapper","BevFlip","BevRotate"),相关细节可以参考代码。代码路径:bev_release_package/bev/data/transforms/bev.py
”bev平面增强后,需要您这边改变分割和检测bbox的label“这句话的理解是否是:需要改变的是2d投影上的标签。那么3D空间自车左边系下的其他目标3D标签是否需要改变?例如x,yz,w,h,l,yaw,pitch,roll标签值。我自己的理解上,在bev的平面扰动增强后,需要改变gridsample的取样点的位置,这么要在ipm.py处理吗?有没有参考的例子?
是的,您这边可以参考bev_release_package/bev/data/transforms/bev.py中的"BevFlip","BevRotate" 类代码,bev平面增强以后,重新计算了采样坐标、并且根据新计算的采样坐标做了gridsample。"BevFlip","BevRotate" 是我们编写好并注册在底层的BEV平面增强类,您这边可以直接在config文件的model字段中调用,调用方式如下所示: